NHT³ Nanoindentation Tester måler hardhet, elastisk modul, krypning og andre overflateegenskaper fra nanometer- til mikrometerskala. Kraftområdet går fra 0,1 mN til 500 mN, noe som dekker alt fra tynne belegg til bulkmaterialer i samme instrument.

Instrumentet bruker en referansering som følger prøveoverflaten gjennom hele indentasjonsmålingen. Indentasjonsdybden måles derfor alltid direkte mot overflatens aktuelle posisjon, uten programvarekorreksjoner i etterkant. Fordi metoden ikke er avhengig av termisk stabilisering, kan målingen startes umiddelbart etter at prøven er montert. Referanseringen beskytter samtidig indenteren mot kollisjon, og målespissen byttes på under to minutter.

I hurtigmodus kan du kjøre opptil 600 målinger per time med reelle indentasjonskurver. Sammen med brukerprofiler, måleprotokoller, flerprøvemålinger og tilpassbar rapportering gir dette høy kapasitet i rutinearbeid. Det integrerte mikroskopet har et stort forstørrelsesområde, slik at du kan observere overflaten og definere måleposisjonen direkte. Programvaren dekker både standardmetoder og avanserte indentasjonsmetoder.

Med Sinus Mode utfører instrumentet dynamisk mekanisk analyse (DMA): utviklingen av mekaniske egenskaper som funksjon av dybde (HIT og EIT mot dybde) og viskoelastiske egenskaper i form av lagringsmodul E’, tapsmodul E» og tan δ. Modusen gir i tillegg hurtigkalibrering av indenteren og spennings-tøyningsanalyse. NHT³ bygges på Step-plattformen, som kan utstyres med ett målehode for dedikert QC-arbeid eller med flere målehoder for komplett mekanisk overflatekarakterisering – for eksempel ved å kombinere indentasjon med ripetesting.

Nøkkelfunksjoner

• Kraftområde 0,1 mN til 500 mN med lastoppløsning 20 nN og støygulv ≤ 0,5 µN
• Dybdeområde 200 µm med dybdeoppløsning 0,01 nm og støygulv ≤ 0,15 nm
• Referansering som følger prøveoverflaten – måling starter umiddelbart etter montering, uten termisk stabilisering
• Opptil 600 målinger per time i hurtigmodus (Quick Matrix) med reelle indentasjonskurver
• Sinus Mode for DMA: HIT og EIT mot dybde, E’, E» og tan δ, samt spennings-tøyningsanalyse
• Datainnsamling med 192 kHz
• Integrert mikroskop med stort forstørrelsesområde for direkte valg av måleposisjon
• Bytte av målespiss på under to minutter, med indenteren beskyttet mot kollisjon
• Tilgjengelig som ECR-versjon for måling av elektrisk kontaktmotstand

Bruksområder

• Harde belegg: DLC, ta-C, AlTiN og termisk sprøytede belegg
• Galvaniske belegg, metaller, keramikk og glass
• Polymerer, elastomerer og lim
• Elektroder i litiumionbatterier
• Biologiske og biomedisinske prøver, blant annet bein
• Pulverpartikler for additiv produksjon og kompakterte pulvere