Anton Paar – XRDynamic 500 – Automatisert pulverdiffraktometer

XRDynamic 500 er et automatisert, multifunksjonelt pulverdiffraktometer for laboratorier som arbeider med strukturell karakterisering av krystallinske og amorfe materialer. Instrumentet dekker pulver-XRD, non-ambient XRD, PDF-analyse og SAXS på én plattform, og er beregnet på både erfarne krystallografer og brukere med begrenset XRD-erfaring.

TruBeam™-konseptet kombinerer stor goniometerradius, evakuert strålebane og fullautomatisk bytte av røntgenoptikk og strålegeometri. Den evakuerte strålebanen reduserer spredning fra luft og gir lavere bakgrunnssignal, mens standard Bragg-Brentano-oppsett gir en vinkeloppløsning på 0,021° FWHM målt på første LaB₆-topp. Instrumentet justerer seg selv, slik at måleforholdene blir reproduserbare uavhengig av operatør.

All optikk – absorbere og filtre, strålemaske, Soller-spalter, divergensspalter, antispredningsspalter og parallellplatekollimatorer – er motorisert. Du kan derfor bytte målekonfigurasjon uten manuelle inngrep og bruke opptil tre strålegeometrier i samme måleserie. Kombinert med XRDynamic Autosampler for opptil 105 prøver gir dette ubemannet analyse av pulver, faste materialer, fibre, tynnfilmer og luftsensitive prøver.

Styring og datainnsamling skjer i XRDdrive, mens XRDanalysis dekker kvalitativ og kvantitativ faseanalyse, mikrostrukturanalyse og Rietveld-forfining. For laboratorier i regulerte miljøer finnes en egen programvarepakke som støtter arbeid i samsvar med FDA 21 CFR Part 11.

Nøkkelfunksjoner

• Vinkeloppløsning 0,021° FWHM (første LaB₆-topp) i standard Bragg-Brentano-oppsett
• Evakuert strålebane og stor goniometerradius (TruBeam™) reduserer luftspredning og bakgrunnssignal
• Fullautomatisk bytte av optikk og strålegeometri – opptil tre strålegeometrier i samme måleserie
• Måleradius 360 eller 400 mm, vinkelområde −95° til 162,5° 2θ og minste trinnstørrelse 0,0001°
• Automatisk justering av optikken mot røntgenkilden via kildevipping med ekstra tiltakse, med automatisk komponentgjenkjenning av optikk og prøvebord
• Ubemannet analyse av opptil 105 prøver med XRDynamic Autosampler og industristandard prøveholdere
• Tilkoblinger for non-ambient-eksperimenter er integrert i diffraktometerhuset; integrert styreenhet (CCU) er tilgjengelig som opsjon
• Hybride pikseldetektorer Pixos 2000 og Pixos 2000 CdTe, begge med 0D- og 1D-modus

Bruksområder

• Pulver-XRD: kvalitativ og kvantitativ faseanalyse, mikrostrukturanalyse og Rietveld-forfining
• Non-ambient XRD og in-situ-studier ved varierende temperatur, atmosfære og fuktighet via non-ambient-kamre
• PDF-analyse av amorfe og nanokrystallinske materialer
• SAXS-målinger med EVAC-modul og dedikert SAXS-optikk
• Måling i refleksjon og transmisjon på pulver, faste materialer, fibre, tynnfilmer og luftsensitive prøver
• Laboratorier i regulerte miljøer med krav knyttet til FDA 21 CFR Part 11